BranValt推出双窄盘提升高留茬作物谷物损失测量

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BranValt（原Bushel Plus）推出Dual Narrow Pan，作为SmartPan系统的田间附加装置，用于在秸秆高大、密集或不均匀的作物中安全准确地测量联合收割机谷物损失。该装置采用双窄收集盘并排安装在加固框架上，兼容大多数联合收割机配置，适用于BranValt旗舰40英寸SmartPan系统，可替代标准宽收集盘，无需修改载体或其他系统组件。

该产品面向玉米、向日葵、油菜籽和高秆油菜，以及使用割台收割的作物。BranValt首席执行官兼创始人Marcel Kringe表示，可靠测量始于收集盘正确下落并均匀收集物料，双窄盘有助于在困难条件下获得可靠样本。SmartPan系统获John Deere、Case IH、New Holland、CLAAS和Fendt等主要设备制造商认可和使用。Kringe称，大多数未校准的联合收割机每英亩遗留2至5蒲式耳谷物。